金屬離子對滑石浮選工藝的影響

作者：紅星機器 發表于： 2016-05-16 15:06:03

楊帥軍老師 紅星技術工程師

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滑石是一種天然可浮性很好的層狀硅酸鹽礦物，常作為脈石礦物存在于銅、鉬、鎳等硫化礦中，滑石的存在嚴重影響了硫化礦精礦的質量，為了有效提高硫化礦精礦質量，本文以浮選過程中常見的金屬離子為例，探討對其滑石浮選工藝的影響。

一、試驗原料及試劑

試驗所用的滑石純礦物取自遼寧丹東，人工選取富塊礦，用清水洗去表面的礦泥，晾干后采用顎式破碎機碎至－2mm，然后經球磨機磨細，取38～104μm粒級樣品作為浮選試驗用樣，?。?8μm粒級樣品作為Zeta電位測試用樣。

試驗中所用起泡劑甲基異丁基甲醇(MIBC)，調整劑鹽酸、氫氧化鈉，氯化鈣、氯化鎂、硫酸銅、氯化鐵均為化學純，其中氯化鈣、氯化鎂、硫酸銅、氯化鐵均配制成濃度為1.0×10－3mol/L的鹽溶液使用；試驗用水為超純水。

二、實驗方法

1、單礦物浮選試驗

當溶液中不添加任何金屬離子時，滑石的可浮性較好，并且滑石回收率不受溶液pH值的影響，浮選回收率均高于90%；當溶液中加入Ca2+后，滑石的可浮性有小幅提高，但變化不明顯;添加Mg2+后，滑石回收率在低pH值時較高，當pH＞10后，回收率隨pH提高而降低;添加Cu2+后，滑石回收率在pH為4～10內范圍被抑制，并且在pH值為6左右時Cu2+對滑石抑制作用強；Fe3+在pH值為3～9的范圍內能夠抑制滑石，在pH值為7左右時Fe3+對滑石抑制作用強。

2、ζ電位測試

未加入任何金屬離子時，滑石表面ζ電位隨pH值的提高而逐漸降低，滑石的零電點為2.7；當溶液中加入Ca2+、Mg2+、Cu2+和Fe3+后，滑石表面ζ電位均發生明顯變化，說明4種金屬離子在滑石表面都發生了吸附；添加Ca2+后，滑石表面ζ電位有正移趨勢，并且隨著pH值的提高，ζ電位正移幅度變大;添加Mg2+后，滑石表面ζ電位同樣發生正移，并且隨著pH值的增加，ζ電位呈先降低后提高再降低的變化趨勢;而Cu2+和Fe3+加入后，滑石表面ζ電位均由負變正，且隨著pH值的提高，ζ電位均呈先提高后降低的變化趨勢。

3、誘導時間試驗

在不加任何金屬離子及濃度為1.0×10－4mol/L的Ca2+溶液中，滑石和氣泡之間的誘導時間很短，且不隨pH值的變化而變化;在添加了Mg2+的溶液中，當pH值為12時，滑石與氣泡之間的誘導時間顯著變長，說明此時需要較長的接觸時間礦物顆粒才能黏附于氣泡上；在添加了Cu2+的溶液中，pH值為6和8時，誘導時間顯著變長;在添加了Fe3+的溶液中，pH值為4～8時，誘導時間顯著變長。誘導時間延長表明滑石顆粒與氣泡接觸后發生黏附變的困難，滑石親水性變強，可浮性下降，這與浮選試驗結果基本一致。

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